ナノテク部会 第72回研究会
テーマ：薄膜評価の基礎と実際
| 主 催 | (一社)表面技術協会 ナノテク部会 | ||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 協 賛 | (公社)日本表面真空学会 | ||||||||||||
| 日 時 | 平成30年7月25日（水）13：30～ | ||||||||||||
| 会 場 | 東京都市大学・世田谷キャンパス 1号館 地下1階1BC会議室
交通：東急大井町線「尾山台駅」下車徒歩12分 https://www.tcu.ac.jp/access/index.html | ||||||||||||
| 講 演 |
1．曲面におけるスポット領域のスペクトル正反射率測定装置
(株)渋谷光学 王 薇
2．マイクロスクラッチ試験機の原理と測定事例の紹介
(株)レスカ 新井 大輔
3．流動電位法によるゼータ電位の測定とその展望
(株)アントンパール・ジャパン 中野 祐樹
| ||||||||||||
| 参 加 費 （消費税含む） |
| ||||||||||||
| 申込方法 | 参加希望の方は，｢ナノテク部会 第72回研究会 参加希望｣と明記のうえ，参加者1名につきそれぞれ，（1）氏名，（2）勤務先（所属），（3）参加費の会員種別（上記），（4）電子メールアドレス，（6）郵便物（有料の場合，請求書等）送付先，をご記載のうえ，下記あてに電子メールまたはFaxでお申し込みください。 | ||||||||||||
| 申 込 先 問 合 先 | 表面技術協会 ナノテク部会係 上野 E-mail：ueno912@sfj.or.jp，TEL：03-3252-3286，FAX：03-3252-3288 |