めっき部会7月例会
表面処理に関連した分析,解析技術
日 時 | 平成30年7月24日(火)13:00~16:30 | |||||||||||
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会 場 | 理窓会 第2会議室(東京都新宿区神楽坂2-6-1 PORTA神楽坂7階)
http://tus-alumni.risoukai.tus.ac.jp/access/hall | |||||||||||
講 演 |
1.めっき液分析の濃度管理
メトロームジャパン(株) 伊藤 恒伸
2.イオンクロマトグラフの基本から高機能分注器を用いた自動前処理まで
メトロームジャパン(株) 山本 喬久
3.SEM,FIBによるめっき,接合材料の解析
日本電子(株) 鈴木 俊明 | |||||||||||
参 加 費 (消費税含む) |
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定 員 | 50名 | |||||||||||
申込方法 | 参加希望の方は,「めっき部会7月例会参加希望」と明記し, (1)氏名,(2)所属,(3)住所, (4)会員種別(部会会員,表協会員,一般,学生,シニア登録), (5)参加費請求書の有無をご記入のうえ, めっき部会事務局・上野(E-mail:ueno912@sfj.or.jp)までお申し込みください。折り返し参加券・会場案内図をお送りいたします。 |