ナノテク部会 第60回研究会
テーマ：表界面分析の基礎と応用
近年，材料の高機能化に対する要求が高まっているため，その機能性をさらに高めた材料開発が必要不可欠である。このためには，その機能の発現原理を理解し，その原理に基づく材料設計を行う必要がある。材料機能の発現原理を理解するには，様々な分析手法を用いた原子・分子スケールでの統合的な解釈が必要である。このような背景から，各種分析手法も時代とともに常に進化し続けている。
本研究会では，材料の結晶性や表面の微細構造・状態・特性を明らかにする最新の測定技術について，X線回折装置（XRD），走査電子顕微鏡（SEM），熱分析装置（DSCやDTA等）等を例にとり，細心の分析事例を交えてその原理と解析法について解説する。
| 主 催 | (一社)表面技術協会 ナノテク部会 | ||||||||||||||
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| 協 賛 | (公社)日本表面科学会，(公社)日本セラミックス協会， 日本フラックス成長研究会，日本結晶成長学会 新技術・新材料分科会，信州大学AGENDA | ||||||||||||||
| 日 時 | 平成27年8月7日（金）13：30～ | ||||||||||||||
| 会 場 | 芝浦工業大学 豊洲キャンパス 交流棟 4階 401教室（東京都江東区豊洲3-7-5）
http://www.shibaura-it.ac.jp/access/toyosu.html | ||||||||||||||
| 参 加 費 （消費税含む） |
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| 申込方法 | 参加希望の方は，｢ナノテク部会 第60回研究会 参加希望｣と明記のうえ，参加者1名につきそれぞれ，（1）氏名，（2）勤務先（所属），（3）会員種別（ナノテク部会・会員，表協・会員，協賛学協会・会員，その他（一般，大学・公的機関，学生）），（4）電子メールアドレス，（5）意見交換会への参加の有無，（6）郵便物（有料の場合，請求書等）送付先，をご記載のうえ，下記あてに電子メールまたはFaxでお申し込みください。 | ||||||||||||||
| 申 込 先 問 合 先 | 「ナノテク部会」事務局・上野 E-mail：ueno912@sfj.or.jp，TEL：03-3252-3286，FAX：03-3252-3288 |
プログラム
| 13：30～ |
（仮題）X線回折法による材料分析
株式会社リガク （調整中）
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| 14：15～ |
（仮題）環境制御電界放射走査型電子顕微鏡（FESEM）の基礎原理と応用事例
株式会社島津製作所 宮本 丈司
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| 15：00～ |
休憩
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| 15：20～ |
（仮題）熱分析の基礎原理とアプリケーション紹介
株式会社島津製作所 長西 敦子
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| 16：05～ |
（仮題）材料の硬さ測定の原理と応用事例について
（交渉中）
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| 17：00～ |
意見交換会
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