| 主催 | 本会・ナノテク部会 |
| 協賛 | (公社)日本表面科学会，(公社)日本セラミックス協会，日本フラックス成長研究会，日本結晶成長学会新技術・新材料分科会，信大AGENDA |
| 日時 | 平成26年6月19日（木）13：30〜17：00 |
| 会場 | 芝浦工業大学 豊洲キャンパス 教室棟3階304教室（江東区豊洲3-7-5） |
| 内容 |
近年，様々な機能性ナノ材料が開発されているが，その機能性をさらに高めた材料を創製する必要がある。機能の発現原理を理解するには，様々な分析手法を用いた統合的な解釈が必要不可欠であり，各種分析手法も時代とともに常に進化し続けている。本研究会では，材料の結晶性や表面の微細構造・状態・特性を明らかにする最新の測定技術について，走査電子顕微鏡（SEM），透過電子顕微鏡（TEM），X線回折装置（XRD），ガスクロマトグラフィ質量分析装置等を例にとり，実際の分析事例を交えてその原理と解析法について下記の４社より解説をしていただく。 １．(株)島津製作所，２．日本電子(株)，３．(株)リガク，４．日本電子(株) |
| 意見交換会 | 17：10〜（参加費 3,000円） |
| 参加費 |
ナノテク部会会員：無料，表協会員・協賛学協会会員・学生：3,000円 前記以外大学/公的機関：5,000円，前記以外企業：10,000円（消費税を含む） |
| 申込方法 | 参加ご希望の方は「ナノテク部会・第55回研究会 参加希望」と記載し，(1)氏名，(2)所属，(3)会員所属区分（上記），(4)メールアドレス，(5)意見交換会参加の有無を明記のうえ，本部会事務局 上野 （E-mail： ueno912（a）sfj.or.jp）までお申し込み下さい。折り返し参加券をお送りいたします。 |