| 主催 | 本会・ナノテク部会 |
| 協賛 | (公社)日本表面科学会，(公社)日本セラミックス協会，日本フラックス成長研究会，日本結晶成長学会新技術・新材料分科会，信大AGENDA |
| 日時 | 平成25年8月7日（水）13：30〜17：00 |
| 会場 | 芝浦工業大学 豊洲キャンパス（江東区豊洲3-7-5） |
| 講演 |
1．EDS面分析の最新手法：ピーク分離マップと多変量イメージ解析（COMPASS）
サーモフィッシャーサイエンティフィック(株) 鈴木 実
2．ナノ材料解析のためのXPSの基礎と応用
日本電子(株) 島 政英
3．ラマン分光を用いた材料分析（仮）
交渉中
その他１件を予定
意見交換会 17：30〜
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| 参加費 |
ナノテク部会会員：無料，表協会員・協賛学協会会員・学生：3,000円， 前記以外大学/公的機関：5,000円，前記以外企業：10,000円（消費税を含む） 意見交換会 参加費：3,000円 |
| 申込方法 | 参加ご希望の方は「ナノテク部会・第51回研究会 参加希望」と記載し，(1)氏名，(2)所属，(3)会員所属区分（上記），(4)メールアドレス，(5)意見交換会参加の有無を明記のうえ，本部会事務局 上野 （E-mail： ueno912@sfj.or.jp）までお申し込み下さい。折り返し参加券をお送りいたします。 |