材料表面の状態や性質は，化学的な組成から形状，歪みなど様々な項目があるが，これらはいずれも材料の機能発現を大きく左右しうる重要な情報である。従って，その正しい評価や分析の重要性は論を待たず，各種の分析測定手法も常に進化を続けている。本セミナーでは，表面の状態・特性を明らかにする最新の測定技術について，X線回折, FT-IR, EPMAなどを例にとり，実際の分析事例を交えてその最先端を解説する。
| 主催 | 本会・ナノテク部会 |
| 協賛 | 表面技術協会，日本表面科学会 |
| 日時 | 平成25年6月17日（月）13：30〜 |
| 会場 | 芝浦工業大学 豊洲キャンパス 交流棟 4階401教室 |
| プログラム |
13：30〜14：20 多次元検出器搭載X線回折装置を用いた表面分析
ブルカー・エイエックスエス(株) 森岡 仁
14：20〜15：10 微粒子ピーニング法により改質した表面の分析事例
東京都市大学 工学部 亀山 雄高
15：10〜15：25 休憩
15：25〜16：15 FTIRおよびFTIRイメージング法による材料表面の構造解析
(株)パーキンエルマージャパン 大西 晃宏
16：15〜17：05 EPMAによる薄膜分析技術
日本電子(株) 高倉 優
17：20〜 意見交換会（参加費：別途3,000円）
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| 参加費 |
ナノテク部会・会員：無料，協賛学協会・会員：3,000円， その他（一般）：10,000円，その他（大学/公的機関）：5,000円 その他（学生）：3,000円 （＊いずれもテキスト代含む） |
| 申込方法 | 参加ご希望の方は「ナノテク部会・第50回研究会 参加希望」と記載し，(1)参加者名，(2)勤務先（部課名），(3)住所，(4)会員種別，(5)参加費請求書の有無を明記のうえ，本部会事務局 上野 （E-mail： ueno912@sfj.or.jp，FAX： 03-3252-3288）までお申し込み下さい。折り返し参加券・会場案内図をお送りいたします。 |