近年,様々な機能性材料が開発されているが,その機能性をさらに高めた材料の創製が求められている。このためには,その発現原理を理解し,材料を設計していく必要がある。材料機能の発現原理を理解するには,様々な分析手法を用いた統合的な解釈が必要である。このような必要性から,各種の分析測定手法も常に進化し続けている。本セミナーでは,材料の結晶性や表面の微細構造・状態・特性を明らかにする最新の測定技術について,XPS,AES,FT-IR,ラマン分光,XRD等を例にとり,実際の分析事例を交えてその最先端を解説する。
主催 | 本会 ナノテク部会 | ||||||||
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協賛 | (公社)日本表面科学会,日本フラックス成長研究会,日本結晶成長学会新技術・新材料分科会,信大AGENDA | ||||||||
日時 | 平成24年8月7日(火)13:30〜17:00(終了後,交流会あり) | ||||||||
会場 |
芝浦工業大学 工学部 豊洲キャンパス 5階507教室
(東京都江東区豊洲3-7-5)
[交通機関]
東京メトロ有楽町線「豊洲駅」1cまたは3番出口 徒歩7分
ゆりかもめ「豊洲駅」 徒歩9分
JR京葉線「越中島駅」2番出口 徒歩15分
[交通アクセス]
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講演
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13:30−14:15 エネルギー関連材料のXPS・AESによるナノ解析事例
日本電子(株)島政英
14:15−15:00 FTIR,ラマン分光法による薄膜試料の分析
(株)島津製作所武内誠治
15:00−15:20 休憩
15:20−16:05 薄膜・表面・界面のX線評価技術
(株)リガク西郷真理
16:05−16:50 電子顕微鏡を利用したナノ構造作製
芝浦工業大学下条雅幸
(独)物質・材料研究機構三石和貴
(独)物質・材料研究機構竹口雅樹
17:00−19:00 技術交流会
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定員 | 80名 | ||||||||
参加費 |
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交流会 | 会費3,000円(定員40名) | ||||||||
申込方法 |
下記あて電子メールにてお申し込み下さい。
参加者1名につきそれぞれ,次の項目をご記載下さい。
(1) 氏名
(2) 所属 (3) 会員種別 [ナノテク部会,表面技術協会,協賛団体,学生,大学/公的機関,企業] (4) 電子メールアドレス (5) 交流会参加の有無 |
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申込先 | ナノテク部会事務局(E-mail:nanotech@eco-t.esi.nagoya-u.ac.jp) |